產品型號：HCCT-40H

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-05-29

產品簡介：

華測儀器HCCT-40H電介質溫頻特性綜合測試系統(tǒng)

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規(guī)格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

HCCT-40H電介質溫頻特性綜合測試系統(tǒng)由華測儀器生產，是將環(huán)境試驗箱與評估系統(tǒng)相結合，效率采集數(shù)據(jù)的自動化多通道系統(tǒng)。儀器自動評估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等多種類型的電容器。

產品優(yōu)勢

至多64個通道的自動測量

可以測量不同溫度環(huán)境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)，可選擇8個通道的倍數(shù)，至多64個通道；

圖形功能允許實時查看測量結果

收集的數(shù)據(jù)，包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數(shù)進行實時審查；

可選不同測試模式

溫度特性評估測試：在此測試模式下，自動記錄特性數(shù)據(jù)，并與溫度變化同步，頻率步數(shù)201步（可定制）；

持續(xù)運行測試：測試模式測量以下參數(shù)的變化特定中隨時間推移的特征自動記錄數(shù)據(jù)；

頻率特性評價試驗：試驗模式在特定溫度環(huán)境下改變頻率的同時，自動記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)；

多種可選夾具

除了SMD組件的專用夾具外，還提供了根據(jù)離散設備形狀定制的夾具；