還在被導(dǎo)通 / 絕緣電阻測試難題困擾？阻值數(shù)據(jù)漂移不準(zhǔn)、單機單測效率低下、現(xiàn)場電磁與溫場干擾偏大、多批次樣品檢測耗時長？華測儀器 Huace DT-L3 導(dǎo)通絕緣電阻測試系統(tǒng)提供測試新方案。

設(shè)備標(biāo)配四端子測試架構(gòu)，減少測試引線損耗、端子接觸電阻帶來的測量偏差；導(dǎo)通測微歐級高準(zhǔn)度，分辨率可達(dá)100μΩ，絕緣端可準(zhǔn)確捕獲 pA~fA 量級微弱漏電流，直流測試架構(gòu)抗工頻、空間雜波干擾能力出眾，惡劣工況數(shù)據(jù)依舊穩(wěn)定可靠。

硬件搭載標(biāo)準(zhǔn)128通道并行測試，通道數(shù)量按需靈活擴容，大批量試樣同步導(dǎo)通 + 絕緣一站式并行檢測，減少測試工時；配套自研 Huacepro 智能測控軟件，全流程自定義測試方案、參數(shù)閾值、判定標(biāo)準(zhǔn)，測試數(shù)據(jù)自動歸檔存儲，意外斷電數(shù)據(jù)完整留存不丟失。

可搭配高低溫試驗箱，準(zhǔn)確控溫模擬，從低溫至高溫全工況服役環(huán)境，減少溫度變化對阻值的影響，實現(xiàn)溫變環(huán)境下導(dǎo)通、絕緣特性連續(xù)溯源測試。

普遍適配印刷電路板通孔導(dǎo)通評估、BGA焊料連接性評估、開關(guān)、繼電器等各種接觸電阻評估、芯片電容器接合可靠性評估等多領(lǐng)域品質(zhì)檢測需求。華測儀器的業(yè)務(wù)涵蓋從單臺測試設(shè)備供應(yīng)到整體實驗室規(guī)劃建設(shè)的全過程。建設(shè)絕緣材料或功能材料電性能檢測實驗室，華測儀器可提供從方案設(shè)計到交付驗收的完整服務(wù)。